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為了規(guī)范 10kV 電纜線路超低頻介損試驗檢測工作,及時 發(fā)現(xiàn)電纜受潮、老化等情況，提高 10kV 交聯(lián)聚乙烯電纜線 路健康水平和供電可靠性，特制定本標準。

一、超低頻介損試驗檢測判斷標準

超低頻介損試驗檢測判斷標準參照 IEEE-400-2013  《有 屏蔽層電力電纜系統(tǒng)絕緣層現(xiàn)場型試驗與評估導則》制定， 本標準適用于 10kV 交聯(lián)聚乙烯電纜超低頻介損試驗檢測。

“介損隨時間穩(wěn)定性”、“介損變化率”、“介損平均值” 三個指標是電纜線路超低頻介損試驗檢測結果的主要判據(jù)， 根據(jù)檢測數(shù)值所處的范圍不同， 共分為正常狀態(tài)、注意狀態(tài) 和異常狀態(tài)三種狀態(tài)，分別對應“無需采取行動”、“1  年后 復測”和“立即采取檢修行動”三種檢修策略。具體如表 1  所示。

表 1  10kV 交聯(lián)聚乙烯電纜超低頻介損檢測判斷標準

二、超低頻介損試驗檢測方法

(一)試驗設備

超低頻介損試驗檢測裝置接線圖如圖 1 所示， 檢測裝置 主要包括測試主機(集超低頻電源、測量模塊、數(shù)據(jù)分析模

塊等為一體)、無局放高壓連接電纜以及接地線等三個部分。

圖 1 超低頻介損試驗檢測接線圖

(二)試驗方法

1 ． 電纜測距：采用測距儀對電纜線路的長度、接頭位 置與數(shù)量進行測試；

2．絕緣電阻測量： 超低頻介損試驗測試前，采用 5000V 絕緣電阻測試儀測量電纜的絕緣電阻；

3 ．試驗接線：檢查電纜終端清潔并處于良好狀態(tài)，將 高壓連接電纜一側(cè)與被測電纜終端連接，另一側(cè)與測試主機 連接，將其他相電纜終端與檢測裝置接地。

4 ．參數(shù)設置：測試前在測試主機上設置電纜名稱、長 度、電纜絕緣類型、敷設方式等信息， 選擇交聯(lián)電纜測試程 序；

5 ．介損測試：點擊介損測試按鈕，對被測電纜進行加

壓，自動測試 0.5Uo ，1.0Uo ，1.5Uo 三個電壓下相關介損數(shù)

據(jù)，得到介損值以及測試曲線， 如圖 2 所示。

在每個電壓水平下，自動測量 8 個介質(zhì)損耗(TD) 數(shù)值， 測量結果給出 TD 平均值，TD 差值和 TD 標準偏差(數(shù)據(jù)精度

應確保達到 10-6 )。圖 3 為 TD 測試實際例子。

圖 3 電纜超低頻介損測試結果

6 ．數(shù)據(jù)保存：將測試結果與測試報告保存至主機并通 過 USB 接口保存至 U 盤。

(三)試驗步驟

1 ．確認被測電纜停電，被測電纜近端和遠端與電力系

統(tǒng)完全斷開，遠端三相懸空，并互相保持足夠的安全距離。

2．使用 5000V 絕緣電阻測試儀對電纜 A、B、C 三相進 行對地絕緣電阻測量，并進行放電。

3 ．被測電纜近端連接上測試系統(tǒng)主機，確保儀器工作 接地及保護接地可靠。

4．采用介損測試軟件，設置 U0=8.7kV，在 0.5U0、1.0U0、 1.5U0  三個測試電壓下自動測量介損，每個測試電壓分別測 量 8 個周期的數(shù)據(jù)，計算平均值。按照該程序完成被測電纜 的 A 相、 B 相、 C 相的介損測試。

5 ．試驗結束后，先將電壓降至零位，然后切斷電源， 接地放電。

6 ．試驗過程參照附件 2 執(zhí)行， 并按照附件 3 要求做好 檢測數(shù)據(jù)記錄。

(四) 試驗結果處理

1 ．根據(jù)實際測試結果，依據(jù)表 1  得出電纜的狀態(tài)及檢 修策略。

2 ．按照附件 4  要求做好試驗數(shù)據(jù)整理及試驗報告編制 工作。

3 ．超低頻介損檢測結果為注意或異常狀態(tài)時可以安裝 泄漏電流補償裝置進行復測， 根據(jù)復測結果重新確定電纜狀 態(tài)。

三、超低頻介損試驗檢測要求

(一) 試驗檢測周期

1．10kV 交聯(lián)聚乙烯電纜在投運前進行 1 次超低頻介損

試驗，試驗結果合格后方可投入運行。

2．重要政治活動供電保障前，針對重要客戶直供和同 母線電纜線路開展超低頻介損試驗。

(二) 設備解體分析

1．對于超低頻檢測結果為異常狀態(tài)的電纜，運維單位 盡快安排停電檢修。停電后優(yōu)先切除運行環(huán)境較差的電纜中 間接頭， 切除后兩段電纜線路分別測試超低頻介損值， 如試 驗檢測數(shù)據(jù)正常， 則被切除的電纜中間接頭為故障點， 如試 驗檢測數(shù)據(jù)仍異常， 則重復上述方法進行電纜中間接頭切 除，直至全部電纜介損值正常。

2．運維單位在異常狀態(tài)電纜檢修后第二天將故障電纜 中間接頭送檢電科院， 同時提供介損試驗檢測原始數(shù)據(jù)， 電 科院 3 日內(nèi)出具設備解體分析報告。