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中試控股技術研究院魯工為您講解：自動抗干擾高壓介損測試儀（實力名企）

ZSDX-7000高壓介質損耗測試裝置(CVT)

多重保護安全可靠儀器具備輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護措施，保證了儀器安全、可靠。

儀器還具備設置接地檢測功能，確保不接地設備不允許操作啟動測試。
參考標準：DL/T 962-2005，DL/T 474.3-2018

高壓介質損耗測試裝置(CVT)：測試高壓源由儀器內部的逆變器產生，經變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變為50.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz，采用數字陷波技術，避開了工
頻電場對測試的干擾，從根本上解決了強電場干擾下準確測量的難題。同時適用于全部停電后用發電機供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質損耗。

主要技術參數
1使用條件 -15℃∽40℃ RH＜80%
2抗干擾原理 變頻法
3電    源 AC 220V±10% 允許發電機
4高壓輸出 0.5KV∽10KV 每隔0.1kV
精    度 2%
最大電流       200mA
容    量 2000VA
5 自激電源 AC 0V∽50V/15A 單  頻   50.0HZ、60.0HZ 
自動雙變頻
45.0HZ/55.0HZ   47.5HZ/52.5HZ 
55.0HZ/65.0HZ   57.5HZ/62.5HZ
6分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF
7精    度 △tgδ:±(讀數*1.0%+0.040%)
△C x :±(讀數*1.0%+1.00PF)
8測量范圍 tgδ 無限制
C x 15pF ＜ Cx ＜ 300nF
10KV Cx ＜ 60  nF
 5KV Cx ＜ 150 nF
  1KV Cx ＜ 300 nF
CVT測試 Cx ＜ 300 nF
9外型尺寸（主機(mm) 350（L）×270（W）×315（H）
外型尺寸(附件)(mm) 350（L）×270（W）×160（H）
10存儲器大小 200 組 支持U盤數據存儲
11重量（主機） 22.55Kg
重量（附件箱） 5.25Kg

緊急停機按鈕及高壓指示燈
功    能：在儀器測試過程中有高壓輸出時，遇緊急情況需要斷開高壓輸出，即可按下緊急停機按鈕立即從內部切斷高壓輸出；按鈕內置指示燈
作為高壓輸出指示燈。 
U盤接口
功    能：可把儀器內部保存的測試數據導入并保存到U盤中。
注    意：數據傳輸過程當中嚴禁拔出U盤，只有當數據傳輸完畢后并且液晶屏上出現拔出U盤的提示后，方可拔出U盤，否則有可能燒毀U盤。
總電源開關
功    能：打開此關，儀器上電進入工作狀態。關閉此開關，也同時關閉儀器內部 
           所有電源系統，緊急情況應立即關閉此開關并拔掉輸入電源線。
電源輸入插座
功    能：提供儀器工作電源。(AC 220V±10%)
接線方法：使用標準插座與市電或發電機相連接。
    注    意：電源插座內部帶有保險管保護裝置，不正常情況下可燒毀保險管保使儀器斷電，保護儀器內部。  
試品低壓輸入Cx插座
功    能：正接法時輸入被試品測試信號。
接線方法：插座中心連接黑色信號線芯線；金屬外殼接黑色信號線屏蔽層；正接法時芯線接被試品低壓信號端，若被試品低壓信號端有屏蔽極（
如低壓端的屏蔽環），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無屏蔽極時屏蔽層懸空。
注    意：? 在啟動測試的過程中嚴禁拔下插頭，以防被試品電流經人體入地。
  ? 用標準介損器或標準電容器檢測正接法精度時，應使用全屏蔽插頭 連接介損器或標準電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。
  ? 測試過程中應保證插座中心測試芯線與被試品低壓端零電阻連接，否則可能引起測量結果的數據波動。
? 強干擾下拆除接線時，應在保持電纜接地狀態下斷開連接，以防感應電擊。
觸摸顯示屏
功    能：全觸摸大屏幕（120mm×90mm）中文菜顯示，每一步操作清晰明了。
注    意：液晶屏應避免長時間陽光暴曬，避免重物擠壓和利器劃傷。
接地接線柱
功    能：儀器保護接地。
注    意：儀器內部自帶接地保護裝置，測試中應當保證可靠接入地網。否則儀器將自動產生保護鎖死所有測試選項。     
ES自激輸出
    功    能：自激輸出，儀器內部為自激輸出變壓器的一端（變壓器另一端已接地），自激法測試CVT介損時連接到CVT的自激線圈（da）上，
dn接地，為CVT提供測量所需高壓電源。
注    意： 因低壓輸出電流大，應采用儀器專用連接線連接到CVT二次繞組并使其接觸良好，選擇正、反接法測量時，此輸出關閉。
打印機
功    能：顯示可打印數據時，將光標移動至“打印”項按確認鍵打印。
注    意：打印機為全自動熱敏打印機，打印紙寬55mm。更換打印紙時請使用熱敏打印機專用打印紙，首先扳起打印機旁邊角，打開打印機蓋板
，然后按順序將打印紙放入打印紙倉內并留少許部分在外面，最后合上打印機蓋板。  
功    能：描敘測試接線方式的示意圖。
注    意： 要注意接線方式和操作對應的功能，否則容易損壞儀器。
高壓輸出HV插座
功    能：儀器變頻高壓輸出；檢測反接線試品電流；內部標準電容器的高壓端。
接線方法：插座中心連接紅色高壓線芯線；金屬外殼連接紅色高壓線屏蔽層；正接法時芯線和屏蔽層都可以作加壓線對被試品高壓端加壓；反接
法時只能用芯線對被試品高壓端加壓，若試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無屏蔽極時屏蔽層懸空。
 注    意：? 在啟動測試的過程中此插座帶有高壓有觸電危險，絕對禁止觸碰高壓插座及與之相連的相關設備。
 ? 用標準介損器或標準電容器檢測正接法精度時，應使用全屏蔽插頭連接介損器或標準電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起
誤差。
? 測試過程中應保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高            壓端零電阻連接，否則可能引起測量結果的數據波動。
高壓線屏蔽接地端子
安裝位置
功    能：儀器測試時高壓線抗干擾接地。
注    意： 接地線不要靠近高壓接頭，否則會引起高壓放電，出現升壓失敗。測試時請不要關閉接地保護功能，儀器的接地必須可靠。 

ZSDX-7000高壓介質損耗測試裝置是發電廠、變電站等現場或實驗室測試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。

儀器為一體化結構，內置介損測試電橋，可變頻調壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩定度標準電容器。

介質損耗因數偏大的原因及處理方法：
1瓷套表面受潮。瓷套表面電阻的大小直接影響tanδ的準確度，因為表面電阻與體積電阻并聯在一起，當電橋采用反接法測量時，會使tanδ值偏大。
解決方法是：
1）用電吹風、遠紅外等烘燥表面，或在日光下暴曬。
2）用揮發性強的液體清潔。
3）用憎水性涂料涂于瓷套表面。
2）電場干擾。干擾電流Id在被試品電流Ix的右側，使tanδ測量結果大于實際值，此時應采用試驗電源移相法測量tanδ或使用帶抗干擾功能的介損儀。

3）被試品Cx接地回路接觸不良。當被試品Cx接地回路接觸不良時，會使tanδ值偏大，此時應改善被試品接地回路接觸情況。

抗干擾變頻介質損耗測試儀出現代碼故障怎么解決？
抗干擾變頻介質損耗測試儀采用變頻抗干擾和傅立葉變換數字濾波技術，內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器于一體，全自動智能化測量，能夠在強干擾下穩定測量數據。并且測量結果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出。該儀器用于現場抗干擾介損測量或試驗室精密介損測量。

    當抗干擾變頻介質損耗測試儀自檢出現錯誤時，建議您按如下步驟操作

    1.按住減小鍵不松手，打開電源模塊，

    2.開機后大約2-3秒松開減小鍵，此時如果儀器一直處在開機界面，即一直顯示儀器名稱，不進入功能設置界面，表示此操作成功，如果儀器進入功能設置界面，請重復1.2步，

    3.按兩下減小鍵，

    4.按一下啟停建，儀器進入功能設置界面，界面顯示：反接 內cn 變頻 內un 就可以直接運行，空側然后關機，如果這一步出現：內cn外un，按增大鍵或者減小鍵設置外un改為內un 5.關閉電源開關，重啟儀器即可正常使用操作方式為：

    A.按住減小鍵不松手，打開電源模塊，

    B.開機后大約2-3秒松開減小鍵，此時如果儀器一直處在開機界面，即一直顯示儀器名稱，不進入功能設置界面，表示此操作成功，如果儀器進入功能設置界面，請重復1.2步，

    C.按兩下減小鍵，

    D.按一下啟停建，儀器進入功能設置界面，界面顯示：反接 內cn 變頻 內un 就可以直接運行，空側然后關機，如果這一步出現：內cn外un，按增大鍵或者減小鍵設置外un改為內un 5.關閉電源開關，重啟儀器即可正常使用

在電壓作用下電介質中產生的一切損耗稱為介質損耗或介質損失。如果電介質損耗很大，會使電介質溫度升高，促使材料發生老化(發脆、分解等)，如果介質溫度不斷上升，甚至會把電介質熔化、燒焦，喪失絕緣能力，導致熱擊穿，因此電介質損耗的大小是衡量絕緣介質電性能的一項重要指標。
    在外加交流電壓作用下，絕緣介質就流過電流，電流在介質中產生能量損耗，這種損耗成為介質損耗。介質損耗很大時，就會使介質溫度升高而老化，甚至導致熱擊穿。因此，介質損耗的大小就反映了介質的優劣狀況。
    加交流電壓時的等值電路

 由相量圖可知，介質損耗由IR＆產生，夾角IR＆大時， 就越大，故稱δ為介質損失角，其正切值為
      tgδ＝IR／IC＝(U／R)／(U／ωC)＝1／ωCR    (1-1)
    介質損耗 P＝U2／R＝U2ωCtgδ    (1-2)
    由上式可見，當U、ω、C一定時，P正比于tgδ，所以用tgδ來表征介質損耗。
    當絕緣受潮、老化時，有功電流IR將增大，tgδ也增大。通過測tgδ可以反映出絕緣的分布性缺陷。
    如果缺陷是集中性的，有時測tgδ就不靈敏，這是因為集中性缺陷為局部的，可以把介質分為缺陷和無缺陷的兩部分；無缺陷的部分為R1和C1的并聯；有缺陷部分為R2和C2的并聯。當有缺陷部分占的比例很小時， 就很小，所以測整體的tgδ時就不易發現局部缺陷。